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雙向可控矽基礎之過零檢測與波形
- 2018-12-07-

        本文對雙向可控矽中的過零檢測進行了翔實的介紹,經過圖文結合的方法對過零檢測的電路及兩點電壓輸出波形別離進行了解說。關於雙向可控矽感興趣或對過零檢測有疑問的朋友無妨花上幾分鍾來閱讀本文,信任必定會有意想不到的收獲。 在進行溝通無觸點規劃時,人們偏心運用雙向可控矽。這主要是由雙向可控矽的特色決定的,雙向可控矽不隻控製電路簡略,也沒有反向耐壓額顧忌,因而才幹如此適合於溝通無觸點規劃。溝通無觸點規劃在大型強電流的產品中應用較多,因而雙向可控矽需要在強電網絡中運轉,這就使得其對攪擾的抵抗性變得尤為重要,為了最低程度的減小攪擾,常用過零觸發電路來進行雙向可控矽電路的觸發。 在本文傍邊,小編將為大家介紹雙向可控矽中的過零檢測電路。


        圖1過零檢測電路 電路規劃如圖1所示,為了提高功率,使觸發脈衝與溝通電壓同步,要求每隔半個溝通電的周期輸出一個觸發脈衝,且觸發脈衝電壓應大於4V,脈衝寬度應大於20us。圖1中BT為變壓器,TPL521-2為光電耦合器,起隔離效果。當正弦溝通電壓接近零時,光電耦合器的兩個發光二極管截止,三極管T1基極的偏置電阻電位使之導通,發生負脈衝信號,T1的輸出端接到單片機80C51的外部中止0的輸入引腳,以引起中止。在中止效勞子程序中運用定時器累計移相時刻,然後宣布雙向可控矽的同步觸發信號。過零檢測電路A、B兩點電壓輸出波形如圖2所示。
        圖2 A、B兩點電壓輸出波形

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